Model: APD-2000

Hãng SX: GNR - Italy

Trang chủ > Sản phẩm > Thiết bị phân tích > Máy quang phổ nhiễu xạ tia X (XRD)

Giới thiệu:

- APD 2000 PRO là nhiễu xạ kế tia X công suất lớn kiểu Theta/2 Theta. Đây là máy nhiễu xạ phòng thí nghiệm kiểu bột, trang bị những kỹ thuật tiên tiến nhất để đảm bảo độ chính xác, độ lặp lại, an toàn, và đơn giản để phân tích những vật liệu đa tinh thể.

- Là máy phù hợp nhất để phân tích tổ chức pha, cấu trúc tinh thể mẫu bột

- Máy có thể được trang bị thêm nhiều tùy chọn cũng như thiết kế tùy biến theo yêu cầu

- Tốc độ quét rất cao: 1000⁰/phút

- Độ tái lập góc rất chính xác: +/- 0.0001°

- Đo đạc nhanh, kết quả tin cậy

- Nguồn phát tia X độ ổn định rất cao

- Có thể tự động chuyển đổi từ kiểu xuyên qua sang kiểu phản xạ 

- Có nhiều bộ thu tín hiệu: kiểu SC, Silicon strip và tán xạ năng lượng

Ứng dụng:

- Phân tích pha định tính và định lượng

- Định lượng austenit dư - auxtenit dư

- Tính toán sự kết tinh và kích thước tinh thể

Thông số kỹ thuật:

- Nguồn phát tia X:

   + Công suất tối đa: 3kW (có tùy chọn 4kW)

   + Độ ổn định đầu ra: ≤0,01% (khi dao động nguồn đầu vào < 10%)

   + Điện áp lớn nhất: 60kV  

   + Dòng điện lớn nhất: 60mA (có tùy chọn 80m)

   + Bước nhảy điện áp: 0,1kV

   + Bước nhảy dòng điện: 0,1mA

   + Gợn sóng ≤0.03%rms tại tần số dưới 1 kHz, 0.75%rms với tần số trên 1 kHz

   + Gia nhiệt trước và quá trình ram: điều khiển tự động 

   + Nguồn đầu vào: 1 pha, 220 Vac +/-10%, 50 hoặc 60 Hz 

- Ống phóng tia X: 

   + Loại ống phóng: kính (tùy chọn gốm), Anode bằng Cu, FF

   + Tiêu điểm: 0.4 x 12 mm LFF

   + Công suất tối đa: 3 kW

- Bộ giác kế (đo góc):

   + Cấu hình: Theta - 2 Theta thẳng đứng

   + Đường kính vòng tròn đo: 350 - 400mm

   + Dải quét góc phương thẳng đứng: - 60° < 2 Theta < + 168°

   + Dải quét góc phương ngang: - 110° < 2 Theta < + 168° 

   + Bước góc nhỏ nhất: 0.0001°

   + Độ tái lập góc: +/- 0.0001°

   + Kiểu vận hành: quét liên tục, quét từng bước, quét Theta hoặc 2 Theta, quét nhanh, dao động trục Theta

   + Khe phân tán biến thiên: 0 - 4°

   + Khe chống phân tán biến thiên: 0 - 4°

   + Khe nhận biến thiên: 0 - 4°

   + Khe soller: 2°

- Bộ thu tín hiệu (detector): 

   + Kiểu: đếm điểm nhấp nháy SC (có tùy chọn YAP (Ce), multistrip)

   + Tốc độ đếm: 2 x 10(6) cps (Nal); 2 x 10(7) cps (Yap(Ce))

- Vỏ máy:

   + Kích thước: WxDxH 850x750x1680 mm

   + Rò rỉ tia X: < 1 mSv/Year (bảo vệ đầy đủ theo tiêu chuẩn quốc tế)

- Bộ phận xử lý dữ liệu:

   + Kết nối với máy tính

   + Những bộ phận được điều khiển bằng máy tính: nguồn phát tia X, giác kế, bộ giữ mẫu, bộ thu tín hiệu

   + Phần mềm xử lý dữ liệu: Polynomial least squares smoothing. Fourier smoothing. Search for Peaks (automatic and manual). Spline background subtraction. Single peak analysis (area, FWHM, centroid, background). Marquardt fit (with pseudo-Voigt and Pearson VII curves, Ka2 contribution, weighted sum of squares). Sum and multiply by a constant. Scale normalization. Zoom. Graphical windows. Overlap and comparison of diffractograms. Multiview function. Cursor scan. Creation of graphic files .BMP. ICDD-PDF2 Card Overlap. Creation of calibration curves. Analysis of unknown samples. Qualitative and quantitative phase analysis. Rietveld analysis, crystalline structural analysis, crystallite size and lattice strain, crystallinity calculation

Hust Việt Nam