Model: ATM INSPECT

Hãng SX: ATM Qness GmbH - Đức

Trang chủ > Sản phẩm > Thiết bị đo lường cơ điện tử > Kính hiển vi

ƯU ĐIỂM SẢN PHẨM:
- Trình tạo báo cáo và đo lường tương tác
- Tương thích với kính hiển vi ánh sáng phản chiếu và / hoặc kính hiển vi soi nổi
- Có thể tích hợp nhiều camera khác nhau (C-mount)
- Kết quả trực quan thông qua hình ảnh và báo cáo tùy chỉnh
- Có nhiều tính năng mở rộng để nghiên cấu trúc vật liệu

CÁC TÍNH NĂNG:

Đo lường trực tiếp trên ảnh thu được từ kính hiển vi:

- Đo chiều dài, diện tích, góc và hình dạng tự do
- Căn chỉnh các đối tượng sử dụng tọa độ và góc
- Tùy chỉnh về màu sắc, phông chữ, kích thước và kiểu dáng
- Chương trình đo mẫu khi đo lặp lại

Chức năng tạo báo cáo:

- Báo cáo với đầy đủ bảng giá trị, hình ảnh và biểu đồ

- Có thể chèn từ các trường khác nhau

- Có tính năng kéo và thả

Phân tích cấu trúc pha vật liệu theo ISO 9042 and ASTM E562-11:

- Đo lường đối tượng hình ảnh tự động

- Đo hệ số pha theo ISO 9042 và ASTM E562-11
- Đầu ra của kết quả phân tích theo diện tích tương đối / tuyệt đối trong bảng hoặc biểu đồ
- Các đại lượng thống kê (ví dụ: trung bình, độ lệch chuẩn, giá trị nhỏ nhất, lớn nhất)

Đo chiều dày lớp mạ theo DIN EN ISO 1463; ASTM B 487:

- Đo độ dày lớp phủ theo DIN EN ISO 1463
- Đo bán tự động của lớp phủ theo chiều ngang và chiều dọc và lớp phủ cong
- Đầu ra của kết quả phân tích về độ dày: bảng dữ liệu hoặc biểu đồ
- Đầu ra của độ dày lớp phủ theo số lượng thống kê (ví dụ: trung bình, độ lệch chuẩn, giá trị lớn nhất, nhỏ nhất)

Đo kích thước hạt theo tiêu chuẩn DIN EN ISO 643 and ASTM E112-13:

- Đo kích thước hạt theo DIN EN ISO 643 và ASTM E112-13 bao gồm các quy trình chắn tuyến tính và tròn
- Đầu ra của kết quả phân tích: bảng dữ liệu và biểu đồ
- Thu thập số lượng thống kê về kích thước hạt cũng như độ dài chặn hạt (ví dụ: trung bình, độ lệch chuẩn, giá trị lớn nhất, nhỏ nhất)